宇時UM-5DL超聲波掃描測厚儀,包含UM-5D的所有特性：回波-回波測量模式,穿透涂層測量,彩色實時A/B掃描,過零測量技術,可設置增益、消隱、閘門、范圍、延時、射頻、倒向射頻、正半波、負半波、全波、更新率、B掃描Z大/Z小值等多種參數,耦合或報警時厚度值和波形顏色動態改變。增加大容量數據記錄器，包含通訊軟件及USB通訊電纜,標配TC510穿透涂層探頭。

宇時UM-5DL掃描超聲波測厚儀

宇時UM-5DL掃描超聲波測厚儀的產品特點：

宇時UM-5DL掃描超聲波測厚儀，包含UM-5D的所有特性，增加大容量數據記錄器（可存儲10萬個厚度值和1000幅波形），隨機包含通訊軟件及USB通訊電纜，標配TC510穿透涂層探頭。

如果你遇到了普通測厚儀不能解決的問題，請選擇UM-5D超聲波測厚儀AB掃描穿透涂層，它能zui大限度的解決各種測厚難題，為您提供高性價比的解決方案。

1.更大的存儲器、更方便的存儲功能：

可存儲100000個厚度值，是同檔產品的20至200倍；國內采用柵格式存儲文件，一屏可顯示15個厚度值，并同時顯示其在柵格中的位置，便于用戶瀏覽所存的厚度數據；可存儲1000幅A或B掃描波形，波形和厚度值可在同一文件中混存；USB 2.0 全速(Full Speed)接口，功能強大的DataView數據統計及管理軟件。

2.具有穿透涂層功能，不再需要費時費力的去除涂層工作了：

我們之前在國內推出了具有穿透涂層技術的UM-1D測厚儀，現在UM-5DL同樣具備了這一*的功能。該功能是通過測量基材的兩個連續底面回波實現的。

該模式下還具有更多的優勢：免零點校準；高穩定性，測量值不受探頭壓力、耦合層厚度和工件表面灰塵污漬的影響；零漂移。

3.實時彩色A-掃描(Live Color A-Scan) ：

用戶在屏幕上能直接看到彩色超聲信號波型（A掃描），這對于需要驗證厚度讀數是否正確的場合是至關重要的。許多情況會引發錯誤的厚度讀數甚至無讀數，根據波形能輕松找到問題所在，然后根據波形僅需對增益（GAIN）、消隱(BLANKING)、閘門(GATE)這三個參數做適當調整，就可得到正確的厚度讀數。波形的用處：根據波形驗證厚度讀數；根據波形找到問題所在；根據波形尋求解決之道；根據波形調整參數解決問題。

4.增益調整(GAIN)：

調整儀器對回波信號的放大倍數允許以ldB 為單位手動增加或減少。這個功能對聲衰減材料（比如金屬鑄件）的測量是非常有用的。

5.消隱功能(BLANKING)：

使紅色消隱條范圍內的波形無效，可以略去影響測量的有害雜波，比如因材料表面粗糙或內部不均勻引起的噪聲。

6.閘門高度可調(GATE)：

只有回波高于閘門時，儀器才認為接收到了回波，才會有測量值。可見閘門高度可調的重要性，尤其是在應對低回波信號的應用中更是如此（比如超薄板、超厚板的測量）。

7.紅色箭頭：

A掃描模式有一個紅色箭頭指示測量點，厚度讀數就是該點的橫坐標，可幫助判斷厚度讀數是否正確，正確測量時紅箭頭應該指向*底面回波前沿。

8.范圍(RANGE)：

調整顯示在屏幕上的波形范圍，視覺上波形被壓縮或展開。如果沒有正確的設置顯示范圍，回波波形可能出了顯示區域而看不到，但仍能正確地顯示測量值。

9.平移(DELAY)：

調整顯示在屏幕上的波形的起始位置，視覺上波形被水平移動。

如果沒有正確的設置平移，回波波形可能出了顯示區域而看不到，但仍能正確地顯示測量值。范圍和平移功能可將波形的任何一部分放大顯示在屏幕上。

10.實時彩色B-掃描(Live ColorB-Scan) ：

UM-5測厚儀帶時實B掃描功能。顯示沿著探頭移動軌跡的剖面圖，用于觀察被測工件的底面輪廓。并自動捕獲一幅B掃描圖像上的zui小值，由紅色三角指示出zui小值的位置。通過移動指針還可查看B掃描圖像上任一點的厚度值。

11.整流方式：

可選擇射頻、正半波、負半波、全波四種整流方式。 

射頻：描繪了完整的回波波形； 

正半波：指去掉回波的負半波只顯示正半波； 

負半波：指去掉回波的正半波而將負半波翻轉顯示為正；

全波： 指回波的正半波和翻轉為正的負半波均顯示。

12.更多實用的功能：

差值/縮減率：差值模式顯示實測厚度與預設厚度之間的差值變化。縮減率是計算并顯示材料變薄以后厚度縮減的百分比，典型應用時因彎曲而變薄的金屬材料進行測量。

zui大/zui小值捕獲：屏幕上同時顯示當前厚度值、zui小值和zui大厚度值。

報警模式：報警時動態改變厚度讀數顏色。

更新率4Hz、8Hz、16Hz可調：普通的應用可選擇4Hz，當需要快速掃查，比如高溫測量時可選更高的更新率。

多種語言界面可選：中文、英文、日文等。  

宇時UM-5DL掃描超聲波測厚儀的技術參數：

1.測量范圍：

0.5至508毫米(0.02至20英寸)，取決于所用探頭、材料、表面狀況和溫度。

2.單位和顯示分辨率：

毫米-0.01，0.1 英寸-0.001，0.01。

3.顯示模式：

厚度值模式；A-掃描波形模式；B-掃描波圖像模式；zui小/zui大值捕獲模式；差值/減薄率模式；V路徑修正；自動V聲程修正，補償雙晶探頭的非線性度。

4.示值誤差：

±0.05mm(25mm以下)；±0.2%H(100mm以下)；±0.5%H(100mm以上)。

注：H為被測物厚度。

5.重復性：±0.05mm。

6.顯示屏：320*240點陣，2.4寸真彩屏。

7.測量速率：4Hz，8Hz，16Hz可調。

8.聲速范圍：500～9999m/s，0.0197～0.3937in/us。

9.工作語言：中文、英文、日語（可選）。

10.電源：兩節1.5V  AA電池。

11.操作時間：兩節1.5V  AA電池，使用時間大于36小時。

12.自動關機：5分鐘，10分鐘，20分鐘無操作后自動關機或手動關機。

13.工作溫度：-10℃～+50℃，有特殊要求可達-20℃。

14.尺寸：153*76*37mm (H*W*D)。

15.重量：含電池280g。

宇時UM-5DL掃描超聲波測厚儀的標準配置：

測厚儀主機

標配探頭

儀器箱

兩節1.5V堿性電池

耦合劑

操作手冊

宇時UM-5DL掃描超聲波測厚儀的可選附件：

多種可供選擇的探頭；階梯試塊；耦合劑及高溫耦合劑。

宇時UM-5DL掃描超聲波測厚儀的多種探頭可選：